双极晶体管 1/f 噪音测量与 SPICE 模型提取

SILVACO 噪音放大器

半导体器件噪音对电路性能具有重大影响, 这在今天的低电压、高性能的混合信号RF设计中尤为重要。
测量半导体器件噪音并概括这一特征的性能是基本设计要求。 噪音特性对于监测半导体工艺质量也很重要。
SILVACO 已多年为其客户提供1/f 噪音测量和 SPICE 模型噪音参数提取解决方案。
设置偏置条件、测量频率范围、平均数数量和其他测量条件是可行的。这些设置可以另存为一个文件，以便未来使用。

在单一测量时段中测量多偏置点也是可行的。
SPICE 参数提取是由 UTMOST 软件通过确定具体模型类型来完成。UTMOST 支持所有可用的标准噪音模式。
所提取的噪音参数将反馈到特殊噪音验证电路并被模拟。这一最后步骤完成了对所提取的噪音参数的验证。
现有 SPICE 模型精度也可通过模拟噪音特性来验证。

单一偏置点噪音测量数据


多偏置点噪音测量数据



UTMOST III 参数设置窗口

双极晶体管噪音模拟等效电路


相应电流噪音方程在 SPICE 上执行 （AF和KF为SPICE参数）