Automated measurement and SPICE model extraction of any device type

Full control of all measurement conditions

器件和SPICE建模

Utmost IV提供一个易于使用的数据库驱动环境,用于半导体器件测量和为模拟、混合信号和射频应用生成精准高质量的SPICE模型和宏模型。

引言

随着器件几何尺寸越来越小,技术人员使用精确的模型和控制统计变化来处理器件变得更至关重要。电路设计人员需要可以准确地预测直流行为、以及射频和噪声行为的模型。不同的工艺技术需要多种可以很快适应于独特工艺的模型。建模测量可能花费数小时甚至数天,测量控制软件也必须与探针和仪器配合以保证在不同的温度下自动测量。

Silvaco的Utmost IV是业界首屈一指的解决方案来应对这些尖端CMOS和复合半导体器件的表征和建模的挑战。Utmost IV包括四个模块:

采集模块

此模块用于通过各种类型的电测试仪器来直接测量物理器件。这些测得的结果,或“数据集”,直接存储在数据库中。数据集也可以从TCAD或其它SPICE仿真生成。这特别有利于比较两个SPICE模型或从一个SPICE模型类型转换为另一种类型。

优化模块

此模块用于提取和优化SPICE模型参数,以获得模拟和测量器件特性之间的精确匹配。存储在数据库中的数据集被用作模型提取的目标。可以为所有器件类型产生紧凑模型、宏(子电路)、和Verilog-A模型。

脚本模块

该模块提供了一个脚本接口,允许用户编写自定义的基于JavaScript的脚本来测量、提取、优化、并存储结果。

模型校验模块

该模块提供了一个易于使用的工具来探索和测试现有的MOSFET器件模型。一个简易的GUI界面使用户可显示特性曲线或绘制提取特征,如阈值电压与器件长度。可以使用该模块,而无需创建一个接口到数据库,使其成为理想的快速校验传统模型。

 

特征

  • 任何器件类型的自动测量和SPICE模型提取
  • 完全控制所有的测量条件
  • 超过100种不同的测量仪器
  • 开放式体系结构的仪器驱动程序可以修改或由用户创建
  • 提取任何紧凑、宏模型或Verilog-A的SPICE模型
  • 结合直接提取和参数优化技术
  • 仿真和优化任意组合的数据,包括提取的数据值
  • 一系列高级优化器,包括遗传型优化器
  • 高速多线程的SmartSpice接口
  • 支持SmartSpice、HSPICE、Eldo 和Spectre仿真器
  • Verilog-A模式和提取序列共同发展的平台
  • 与TCAD工具的集成提供了工艺仿真至SPICE模型开发流程
  • 使用Firebird关系数据库存储、共享和重用数据
  • 从Utmost III轻松导入数据原有数据、TCAD仿真文件或竞争对手的数据文件

功能

  • 用于半导体器件建模的多功能和用户可编程的行业标准
  • 快速准确的自动测量软件
  • 功能强大、易于使用的器件表征工具
  • 高效、灵活和强大的工业标准SPICE建模软件
  • 与TCAD的无缝集成提供了从TCAD至验证及验收的完整的定制设计流程

 

应用

Device Characterization

SPICE model generation

   
Flexible, easy-to-use inteface can define any measurement Fully automated sequence of measurements

 

   
Rubberband optimization of any number of parameters View and optimize any number of targets